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分光光度計常見噪聲較大故障排除方法集錦
【作者】:mzx 【發布時間】:2022-11-29 【來源】:上海仰光
分光光度計常見故障排除方法集錦
(一)故障：樣品室放入空白后做基線記憶，噪聲較大，紫外區尤甚;
原因：比色皿表面或內壁被污染、使用了玻璃比色皿或空白樣品對紫外光譜的吸收太強烈，使放大器超出了校正范圍;
檢查：將波長設定為250nm，先在不放任何物品的狀態下調零，然后將空比色皿插入樣品道一側，此時吸光值應小于0.07Abs;如果大于此值，有可能是比色皿不干凈或使用了玻璃比色皿;同樣方法也可判斷空白溶液的吸光值大小;
處置：清洗比色皿，更換空白溶液;
(二)故障：吸光值結果出現負值(最常見);
原因：沒做空白記憶、樣品的吸光值小于空白參比液;
檢查：將參比液與樣品液調換位置便知;
處置：做空白記憶、調換參比液或用參比液配置樣品溶液
(三)故障：樣品信號重現性不良;
原因：排除儀器本身的原因外，最大的可能是樣品溶液不均勻所致;在簡易的單光束儀器中，樣品池架一般為推拉式的，有時重復推拉不在同一個位置上;
檢查：更換一種穩定的試樣判定;
處置：采取正確的試樣配置手段;修理推拉式樣品架的定位碰珠;
(四)故障：樣品出峰位置不對;
原因：波長傳動機構產生位移;
檢查：通過氘燈的656.1nm的特征譜線來判斷波長是否準確;
處置：對于高檔儀器而言處理手段相對簡單，使用儀器固有的自動校正功能即可;而對于相對簡單的儀器，這種調整則需要專業人員來進行了;
(五)故障：信號的分辨率不夠，具體表現是：本應疊加在某一大峰上的小峰無法觀察到;
原因：狹縫設置過窄而掃描速度過快，造成檢測器響應速度跟不上，從而失去應測到的信號;按常理，一定的狹縫寬度要對應一定范圍的掃描速度;或者狹縫設置得過寬，使儀器的分辨率下降，將小峰融合在大峰里了。
檢查：放慢掃描速度看一看或將狹縫設窄;
處置：將掃描速度、狹縫寬窄、時間常數三者擬合成一個最優化的條件;
(六)故障：當儀器波長固定在某個波長下時，吸光值信號上下擺動，特別是測量模式轉換為按鍵開關式的簡易儀器;
原因：開關觸點因長期氧化所致造成接觸不良;
檢查：用手加重力量按琴鍵時，吸光值隨之變化;
處置：用金屬活化劑清洗按鍵觸點即可;
(七)故障：儀器零點飄忽不定，主要反映在簡易儀器上;
原因：在簡易儀器中，零點往往是通過電位器來調整，這種電位器一般是炭膜電阻制作的，使用久了往往造成接觸不良;
